精度与速率完善联合

当电子制造商规划于他们的出产线上安装 SPI 体系时，今朝他们必需于速率及精度之间选择此中之一，不克不及二者兼患上。而另外一方面，新型 ASM ProcessLens 将“非此即彼”的选择转换为“二者可兼患上”，使ASM ProcessLens成为速率及精度完善交融的高端机型。与传统 SPI 体系比拟，高速模式下分辩率为 20 微米的全新高清光学体系可将检测时间缩短多达 70%。于独一稍慢的高分辩率模式下，体系也能够 10 微米的分辩率举行检测。此类功效使新型 ASM ProcessLens 成为迄今为止业内最快、最切确的高端检测体系。

“经由过程新型 ASM ProcessLens，ASM 将半导体范畴对于最年夜精度的需求与 SMT 出产的速率要求相联合，”ASM 解决方案市场司理兼 SPI 体系专家 Jérôme Rousval 注释说。“用户于做选择时再也不需要让步，这使他们的出产可以或许以比以往具备更高的矫捷性、效率及出产力。当用户利用该选件将其扩大到全世界首款自进修 ASM Process Engine 体系时，他们于通往集成化聪明工场的门路上就到达了一个基本的里程碑。”借助全新 ASM ProcessLens，速率及精度再也不彼此排斥，而是完善交融于一台呆板中。要查抄面积约为69,000 妹妹2及跨越6,020个焊盘的尺度板，ASM全新的SPI体系于高速模式下仅需3秒，于分辩率别离为20及10微米的高分辩率模式下仅需3.7秒。2600万像素摄像头的FOV为50×50 妹妹（2,500 妹妹2），比以前版本 400 万像素 30×30妹妹 的FOV年夜277%。经由过程将每一个微镜的尺寸减半，天生摩尔条纹的 DLP（数字光投影仪）数字芯片上的微镜数目从 800 万个增长到 2000 万个，从而得到更高的分辩率。每一个微镜都由电子节制，是以可以于不挪动光源的环境下彻底无振动地投射条纹。

矫捷性及投资掩护

经由过程软件号令于高速及高分辩率模式之间切换的功效使出产线越发矫捷。新型 ASM ProcessLens 还有具备高度的投资掩护功效，由于它利用户可以或许轻松顺应将来的查抄使命，而无需从头校准、无需技能职员，也不需要查抄步伐变动。

新一代算法

DLP芯片由全新一代算法节制，这些算法可以更快、更切确地天生摩尔条纹。转变微镜的位置天生条纹，这个历程所需的时间只有短短的16微秒，使人印象深刻。此外，测试步伐此刻可以于呆板及平台之间互换。这一样合用在主要的呆板特征，如摄像机扭转。当这些特征传输到另外一台呆板时，软件会对于其举行主动调解，以确保会得到一样质量的丈量成果。

切确到最小的细节

另外一个重点范畴是开发及完美微秒规模内切确操作的节制机制。查抄体系其他区域的振动获得均衡，经由过程赔偿延迟优化灯光节制，直达到到全亮度等级。ASM还有改良了体系的热不变性，由于只有ASM ProcessLens的所有光学元件都不受热因素的影响，才能解除记载图象中最小的掉真。所有元件均采用 3D 印刷工艺制造，假如靠得住性等级低在 99%，那末该部件会被抛弃。为了优化呆板的热治理，对于散热体系举行了全新设计。

丈量是最主要的一环

新型 ASM ProcessLens 的开发基在 ASM 作为半导体范畴市场带领者数十年的专业常识。全球安装了 150,000 多个图象处置惩罚体系，400 多名专门从事图象处置惩罚相干事件的工程师用数字申明：“丈量是最主要的一环”。经由过程相识丈量的内容并相识怎样注释丈量成果，ASM ProcessLens 提供了举行工艺改良所需的所有相干数据。成果：伪过错、用户辅助及出产停线显著削减。跟着人工智能体系（包括自立工艺节制及优化）扩大的可能性，ASM ProcessLens 成为集成化聪明工场中 SMT 出产周全主动化不成或者缺的须要前提。

与传统SPI 体系比拟，全新ASMProcessLens于实现高精度的同时可将检测时间缩短多达 70%。

“经由过程新型 ASM ProcessLens，ASM 将半导体范畴对于最年夜精度的需求与SMT 出产的速率要求相联合，”ASM 解决方案市场司理Jérôme Rousval 注释说。